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德国IO转接块ic automation 2011487 Quick-change-Plate 1-Wiper-II

关键词:ic automation

详细信息

  德国IO转接块ic automation 2011487 Quick-change-Plate 1-Wiper-II擦胶机构_点胶针头自动清洁装置

  宣传所列报价和参数、图片,并不准确,仅供参考。具体以实际联系回复的报价和参数为准!

Wiper

  

Wiper I清洁被污染的喷射阀喷嘴。

  在清洁站的上侧,清洁胶带轻轻地放在按钮上。当阀门喷嘴触发按钮时,存在机械接触。然后将胶带拉到喷嘴下方,去除喷嘴上的任何残留物。

  

  

Wiper II清洁弄脏的点胶头。

  在清洁装置的顶部有一个带有柔性夹爪的夹爪机构,夹爪被清洁胶带覆盖。弄脏的分配入夹爪之间的空间中,夹持器关闭并将胶带压在周围。当退出夹具时,其上的任何残留物都会被擦干净。

  由于有两种尺寸的夹爪可供选择,即使是最短的吸头也可以有效清洁。

  莱昂纳多

  在过去的几年里,集成微系统在微电子行业引发了大量的创新想法。封装在最小空间中的微型全能设备可以检测和处理例如电气、光学、声学或机械信息,并将这些信息转换为合适的控制命令。用于测试 IC 的标准处理机器已经存在了一段时间,但这些机器只能测试电子微系统功能。然而,这些微系统的多功能性需要一种关于测试处理程序功能的全新方法。

  Leonardo 的主要特点是能够在微系统上进行全面的测试——包括电气和物理测试。这是通过微系统进出特定产品测试区域的标准化运输来完成的。

正在加载

  待测组件 (DUT) 可以装入托盘、试管或串联。装载系统可以处理高达 100 mm 的设备,从而能够运输更大的组件甚至整个系统。两条可调节宽度的平行传送带允许设备在测试后分离,以便将未通过测试运行的组件从生产线上移除。

运输

  配备真空拾取工具或气动或电动夹具的拾放机器人用于将所有类型的包装转移到测试站。可以使用对准相机在前往测试站的途中测量 DUT 的位置,从而实现在测试插座中的放置 (+/- 50 μm)。

测试区

  测试区域为 700 x 550 x 950 毫米(宽 x 长 x 高),尺寸很大,提供了满足目前市场上各种微系统测试所需的灵活性和适应性。Leonardo 提供必要的电源端子(低压、压缩空气、真空)和可编程输入和输出,这些输入和输出也可以在 DUT 运输时读取或切换。这允许在测试站执行准备措施,例如测试插座的打开和关闭。借助摄像头,一旦 DUT 被放置在测试插座中,它就可以被带到一个预定义的位置。

  Leonardo 可以同时处理两个测试站,这取决于测试的持续时间,可以大大减少有效运输时间,从而提高吞吐量。在一个站点测试 DUT 时,可以清空另一个站点并重新加载。

软件

  多语言图形用户界面允许机器的直观操作,同时允许的配置自由度。产品特定参数和模块存储在自定义项目文件中,可能的数量不受限制。

  该软件包还包括对已安装模块的自动识别以及由三个不同用户级别和受密码保护的登录程序保证的系统安全性。

测试仪界面

  外部测试仪可以通过 TTL 接口以二进制方式连接,通过 RS232 串行连接或通过以太网链路 (TCP/IP)。

  测试仪的结果可以保存在 ASCII 文件或自定义数据库中。莱昂纳多配备了不间断电源 (UPS)。因此,当前结果不会丢失,而是在程序关闭之前存储。

打标

  还提供用于标记测试组件的标签分配器。这可以与多达八个不同的标签一起用于组件的分箱。Leonardo 的模块化概念还允许定制集成其他标记系统和方法。

  

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